Microscopio a forza atomica

Referenti: Felice Carlo Simeone, Federico Veronesi

Il microscopio a forza atomica (AFM) è uno strumento in grado di visualizzare la topografia superficiale di un materiale con risoluzione nanometrica e fornire informazioni su proprietà meccaniche, elettriche e magnetiche delle superfici di nano-materiali quali nanodots, nanotubi e nanofibre.

AFM esegue scansioni della superficie utilizzando una punta con raggio di curvatura micrometrico posta all’estremità di un’asta (cantilever). La punta interagisce con la superficie, flettendo il cantilever. Al variare della topografia o di altre proprietà della superficie, si registra una variazione dell’interazione con la punta, consentendo quindi di ricostruire la topografia superficiale.

AFM può essere utilizzato per misure in aria o in liquido. È inoltre dotato di un sistema antivibrante che consente di eliminare interferenze esterne quali rumori e vibrazione, aumentando la qualità del segnale.

Microscopio a forza atomica A100 A.P.E. Research
Microscopio a Forza Atomica da banco in grado di eseguire le spettroscopie di forza più comuni in modalità di contatto, non-contatto e tapping. L’area di scansione minima è dell’ordine di 100 x 100 nanometri quadrati, e quella massima di 25 x 25 micrometri quadrati. La distanza massima di scansione verticale è di 10 micrometri. il livello di rumore verticale di 0.1 nanometri permette la l’analisi di variazioni di altezza nanometriche.